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美国博曼X-RAY无损膜厚仪

美国博曼无损膜厚仪，膜厚测试仪，X-RAY膜厚仪等等.

用途：检测金属镀层膜厚厚度的仪器，保证镀层厚度品质，减少电镀成本浪费.

产品副名称：应用范围较广的标准型镀层厚度测量仪.

分析:元素范围铝13到铀92.

x射线激发能量50 W(50 kv和1 ma)

钨靶射线管.探测器硅PIN检测器250 ev的分辨率或更高的分辨率.

测量的分析层和元素5层(4层镀层+基材)和10种元素在每个镀层成分分析的同时多达25元素.快速、的分析：

大面积正比计数探测器和博曼仪器50瓦微聚焦X射线光管（X射线光束强度大、斑点小，样品激发佳）相结合，提供灵敏度.

简单的元素区分：

通过次级射线滤波器分离元素的重叠光谱.

性能优化，可分析的元素范围大：

博曼膜厚仪预置800多种容易选择的应用参数/方法.

的长期稳定性：

自动热补偿功能测量仪器温度变化并做修正，确保稳定的测试结果.

例行进行简单快 速的波谱校 准，可自 动检查仪器性能（例如灵敏性）并进行必要的修正.

坚固耐用的设计.

可在实验室或生产线上操作，坚固的工业设计.

博曼测厚仪结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。

联系人：刘振东先生 0136 4094 8714

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