用于测定材料本身厚度或材料表面覆盖层厚度的仪器。有些构件在制造和检修时必须测量其厚度,以便了解材料的厚薄规格,各点均匀度和材料腐蚀、磨损程度;有时则要测定材料表面的覆盖层厚度,以保证产品质量和生产。根据测定原理的不同,常用测厚仪有超声、磁性、涡流、同位素等四种。
磁性测厚仪在测定各种导磁材料的磁阻时,测定值会因其表面非导磁覆盖层厚度的不同而发生变化。利用这种变化即可测知覆盖层厚度值。常用于测定铁磁金属表面上的喷铝层、塑料层、电镀层、磷化层、油漆层等的厚度。
厚度测试仪的特征:
1. 微电脑控制、液晶显示
2. 菜单式界面、PVC操作面板
3. 接触式测量
4. 测头自动升降
5. 自动进样
6. 手动、自动双重测量模式
7. 数据实时显示、自动统计
8. 显示值、小值、平均值和统计偏差
9. 可设进样步距、测量点数、进样速度等参数
10.标准接触面积、测量压力(非标可选)
11.显示值、小值、平均值和统计偏差
12.标准量块标定
13.网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输
使用任何超声波测厚仪,当被测材料的厚度降到探头使用下限以下时,将导致测量误差,必要时,小极限厚度可用试块比较法测得。
当测量超薄材料时,有时会发生一种称为“双重折射”的错误结果,它的现象为:显示读数是实际厚度的二倍;另一种错误结果被称为“脉冲包络、循环跳跃”,它的现象是测量值大于实际厚度,为防止这类误差,测临界薄材料时应反复测量核对。