Helios-PL光致发光测试系统能够对多种太阳能电池少子寿命进行快速二维分析，能够准确的测量和计算出电池的缺陷分布及密度，同时准确反馈结果以很好的改进电池的生产工艺。

产品特点：

■ 适用几乎所有类型太阳能电池：

单晶硅片及电池/多晶硅片及电池/薄膜电池/化合物电池

■ 完整的检测系统：

少子寿命扫描/串联电阻扫描/硅片分类/隐裂/暗条件I-V曲线/光照条件I-V曲线

■ 速度快，每片测试时间小于1秒

■ 精度高，能实时找到每个致少子寿命降低的缺陷

■ 可以监控和优化关键工艺，包括扩散、去磷硅玻璃等等

■ 可以在线和离线分析

■ 功能强大的分析软件，可以分析几乎所有的缺陷

■ 先投入先产出，投入产出比远高于行业的1：2

■ 革命性的产品，未来的趋势所在

技术参数：

■ 铟砷镓传感器：900-1500nm

■ 测试尺寸：23mm*23mm~200mm*200mm

■ 像素：752×480pixel

■ 尺寸：2m×2m*2m 重量：150kg

■ 每片测试时间<1s

典型客户:

美国，欧洲，亚洲及国内太阳能及半导体客户。